Din webbläsare stöds ej. För bästa upplevelsen rekommenderas en nyare version eller en annan webbläsare.
För att ge dig bättre service använder vi cookies. Genom att fortsätta på sidan godkänner du vår användning av cookies.

Zeiss Siemens Star test karta

1849-755-BP
Pris exkl.250
Grundpris exkl.250
Ej i lager
Produktfråga

Vad vill du veta om Zeiss Siemens Star test karta?

Skicka

Beskrivning

Ett viktigt verktyg när man ska kalibrera objektivet s.k. backfokus (så fokus skalan stämmer överens med verkligheten) eller om man enkelt och snabbt vill kolla skärpa.
DIN A3 och laminerat.
Läs mer ...Stäng
Produkten har lagts i din varukorg Visa varukorgenTill kassan